无
能够对粉末、块状、条带样品的进行测试;能进行多晶样品的常规物相分析和半定量分析;能测定晶粒尺寸和结晶度。
Cu靶X光管电压≤40kV、电流≤40mA
测角仪工作方式:θ/θ方式
扫描范围:0°~ 100
测角仪精度:0.0001°,准确度≤0.02°
运动方式:X、Y、Z、chi、 phi轴均为马达自动控制;
样品行程:X轴:100mm,Y轴:100 mm,
Z轴:50mm , 0.01mm/步
样品最大高度:90 mm
Phi: 360°,0.01 ° /步
Chi: -5~+45 ° , 0.01 ° /步
二维探测器: VANTEC-500