激光显微拉曼成像光谱仪
[ 基础信息 ]
生产国家 : 美国
制造厂商 : 美国
购置日期 : 2014-11-13
规格型号 : DXRxi
[ 分类信息 ]
设备类型 : 分析测试类仪器
设备编号 : 2015BCFE
[ 联系信息 ]
联系人 : 郑卓
存放地址 : 高分子材料工程国家重点实验室211
联系电话 : 15208203782
联系邮箱 : zhuo_zheng@scu.edu.cn
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :
无
主要功能及特色 :
用于无机、有机和高分子等化合物的定性分析，对各种材料的组成、结构和应力等分析，地质/矿物/宝石等组成分析，各种材料表面成分的分布研究。
主要规格及技术指标 :
波数范围：100~4000cm-1
灵敏度：单晶硅三阶峰的信噪比优于15:1
光谱分辨率：<2cm-1（搭配高分辨率光栅）
光谱重复性：≤±0.2cm-1
激光波长：532nm、780nm
