无
制备SEM、TEM、AFM、偏光等测试用的样品。
1. 采用重力切片原理 2. 样品厚度控制:1nm – 5µm 3.切片速度控制范围:0.05-100mm/s 4.样品臂总行程:200μm 5.回程速度:10,30,50mm/s可选 6.样品臂前进指示:10段,每段20μm 7.切片创面范围:0.2-4mm 8.温度范围:25°C至-80°C